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E+H仪表

产品介绍

技术参数

连续量/液体

测量原理 放射线物位仪
特点/应用 放射线源盒
发射角:40度/20度
约40 kg
环境温度 -40…200 °C (-40…392 °F)
过程温度 任意
过程压力(绝压)/最大过压限定值 任意
主要接液部件 非接触
过程连接 非接触
特性 使用Applicator进行控制区计算

 

技术参数

连续量/固体

测量原理 放射线物位仪
特点/应用 放射线源盒
发射角:40度/20度
约40 kg
环境温度 -40…200 °C (-40…392 °F)
过程温度 任意
过程压力(绝压)/最大过压限定值 任意
主要接液部件 非接触
过程连接 非接触
特性 使用Applicator进行控制区计算

 

技术参数

密度

测量原理 放射线物位仪
特点/应用 放射线源盒
发射角:5度
约40 kg
环境温度 -40…200 °C (-40…392 °F)
过程温度 任意
过程压力(绝压) 任意
接液部件 非接触
证书/认证 使用Applicator进行控制区计算

 

技术参数

限位检测/液体

测量原理 放射线物位仪
特点/应用 放射线源盒
发射角:40度/20度
约40 kg
环境温度 -40…200 °C (-40…392 °F)
过程温度 任意
过程压力(绝压)/最大过压限定值 任意
主要接液部件 非接触
过程连接 非接触
特性 使用Applicator进行控制区计算

 

技术参数

限位检测/固体

测量原理 放射线物位仪
特点/应用 放射线源盒
发射角:40度/20度
约40 kg
环境温度 -40…200 °C (-40…392 °F)
过程温度 任意
过程压力(绝压)/最大过压限定值 任意
主要接液部件 非接触
过程连接 非接触
特性 使用Applicator进行控制区计算